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SN74LVTH182516  3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3V ABT扫描测试装置(18位通用总线收发器))
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SN74LVTH182640  3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器))
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SN74LVT18502  3.3V ABT Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置带18位通用总线收发器)
厂商: TI[Texas Instruments] 查看供应商
SN74LVT18504  3.3V ABT Scan Test Devices With 20-Bit Universal Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置带20位通用总线收发器)
厂商: TI[Texas Instruments] 查看供应商
SN74LVTH18516  3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Universal Bus Transceivers(3.3VABT扫描测试装置(18位通用总线收发器))
厂商: TI[Texas Instruments] 查看供应商
SN74LVTH18640  3.3-V ABT Scan Test Device With 18-Bit Inverting Bus Transceivers(3.3V ABT 扫描检测装置(18位反相总线收发器))
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SN74LVC1G57(中文)  CONFIGURABLE MULTIPLE-FUNCTION GATE(可配置的多功能门)
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SN74LVC1G58(中文)  CONFIGURABLE MULTIPLE-FUNCTION GATE(可配置的多功能门)
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SN74LVC1G97(中文)  CONFIGURABLE MULTIPLE-FUNCTION GATE(可配置多功能门电路)
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sn74lvc1g98(中文)  CONFIGURABLE MULTIPLE-FUNCTION GATE(可配置的多重功能门)
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